Y. Jiao, N. Nishiyama, J. van der Tol, J. van Engelen, V. Pogoretskiy, S. Reniers, A. A. Kashi, Y. Wang, V. D. Calzadilla, M. Spiegelberg, Z. Cao, K. Williams, T. Amemiya, S. Arai, Semiconductor Science and Technology, Vol. 36, 013001