分析
電界放出形走査電子顕微鏡
HITACHI Regulus8230 電子光学系の最適化により、照射電圧1 kV での分解能を従来機種から約 20％向上させ、0.9 nmまでの分解能を実現しています。加えて、低加速電圧での高分解能観察に最も適したコー…
フォトニックバンド顕微鏡
東京インスツルメンツ FA･CEED 赤外ハイパースペクトルイメージングにより、波長ごとのフーリエ画像を得た後、それらの画像をもとにフォトニックバンドダイアグラムを再構成しています。そのため、非常に高速かつ汎用的な測定が…
顕微フォトルミネッセンス測定装置
HORIBA LabRAM HR-PL 非破壊、非接触による、化合物半導体（ワイドギャップ半導体からナローギャップ半導体まで）のバンドギャップ評価、組成評価、欠陥評価、量子井戸の評価、不純物評価、結晶性評価などが行えます…
3D顕微レーザーラマン分光装置
東京インスツルメンツ Nanofinder FLEX 高感度・高空間分解能な共焦点顕微レーザーラマン分光装置で、微小領域のラマンイメージを短時間で取得することが可能です。大気中・非破壊・非接触・微量分析が行えるとともに、…
顕微紫外可視近赤外分光光度計
JASCO MSV-5300 最小10 µmΦでの分光透過率・分光反射率測定が可能な顕微分光光度計です。カセグレイン鏡の使用で広い波長範囲で色収差のない測定を、ダブルビーム光学系による優れた測光安定性を実現します。また、…
フーリエ変換赤外分光光度計
SHIMADZU AIM-9000 測定対象に赤外線を照射してその反射・透過率を調べることで、微小な対象物を測定できます。広視野カメラと顕微カメラが試料観察をサポートし、広視野カメラでは最大10×13 mmでの広い視野観…
Ｘ線回折装置
Rigaku SmartLab 試料にX線を照射し、X線が原子の周りにある電子によって散乱、干渉した結果得られる回折X線を測定します。膜厚測定、配向測定、粒径空孔径分布測定など、各種薄膜材料の分析を可能にします。